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原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscopy，AFM)是一種具有原子級別高分辨率的新型表面分析儀器，它不但能像掃描隧道顯微鏡(STM)那樣觀察導(dǎo)體和半導(dǎo)體材料的表面現(xiàn)象，而且能用來觀察諸如玻璃、陶瓷等非導(dǎo)體表面的微觀結(jié)構(gòu)，還可以在氣體、水和油中無損傷地直接觀察物體，大大地拓展了顯微技術(shù)在生命科學(xué)、物理、化學(xué)、材料科學(xué)和表面科學(xué)等領(lǐng)域中的應(yīng)用。AFM主要由掃描隧道顯微鏡(STM)發(fā)展而來，其基本原理相似。AFM通過一個微小的針尖與樣品表面相互作用，以實現(xiàn)高分辨率的表...

光電探測器的原理是由輻射引起被照射材料電導(dǎo)率發(fā)生改變，在各個領(lǐng)域有廣泛用途。光電探測器的核心參數(shù)主要有工作波長、帶寬、上升時間和響應(yīng)度，它們是評估光電探測器性能的關(guān)鍵指標(biāo)，也是光電探測器選型的重要依據(jù)。在選擇光電探測器時，需要根據(jù)具體應(yīng)用需求來平衡這些指標(biāo)，以獲得良好的檢測性能。1、工作波長光電探測器的工作波長是指其可以感測到的光信號的波長范圍，通常與探測器的材料有關(guān)?；诠怆娞綔y器的工作原理，當(dāng)入射光的能量(hv)大于材料的禁帶寬度時，價帶的電子才可以躍遷到導(dǎo)帶形成光電流，...

煤巖分析(petrographicanalysisofcoal)是指以光學(xué)顯微鏡為主要主具兼用肉眼和其他手段，對煤的巖石組成、結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、煤化度作定性描述和定量測定的方法。是研究煤帶學(xué)的重要手段。最常規(guī)的分析項目是煤巖顯微組分和礦物質(zhì)的測定、鏡質(zhì)組反射率測定、顯微煤巖類型測定和宏觀描述。全自動煤巖分析系統(tǒng)是一種用于冶金工程技術(shù)領(lǐng)域的分析儀器，用于巖礦、石油顯微組織的觀察與分析。Fossil全自動煤巖分析系統(tǒng)是一種測試鏡質(zhì)體反射率和煤品分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)自動化程度高，所有操作可在...

X射線衍射儀XRD是一種用于分析晶體結(jié)構(gòu)的重要儀器。它通過測量晶體中X射線的散射模式來確定晶體的晶格結(jié)構(gòu)和晶體面取向。X射線衍射技術(shù)在材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用。X射線衍射技術(shù)早期由德國科學(xué)家玻爾默于1912年發(fā)現(xiàn)，并被廣泛應(yīng)用于研究晶體結(jié)構(gòu)。是通過使用X射線管產(chǎn)生X射線，然后將X射線照射到待測樣品上，記錄X射線經(jīng)過樣品后的散射模式來確定晶體結(jié)構(gòu)的儀器。X射線衍射儀XRD可以幫助科學(xué)家們研究材料的晶體結(jié)構(gòu)和性質(zhì)，從而為新材料的開發(fā)和應(yīng)用提供重要的參考。可以...

鎢燈絲掃描電鏡是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。它的總發(fā)射電流和束斑都較大，抗干擾能力和穩(wěn)定性都較好，低真空下可以對不導(dǎo)電樣品無荷電成像，可用于形貌觀察、顯微結(jié)構(gòu)分析、斷口形貌分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)、化工、物理、電子、生物、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域都有廣泛的用途。工作原理：通過對電子槍內(nèi)的鎢燈絲加高電壓，使電子槍處于熱激發(fā)狀態(tài)，在陽極作用下，處于熱激發(fā)的電子槍就可以激發(fā)出電子束。經(jīng)過掃描線圈磁場的控制，電子束在樣品表面逐點掃描，激發(fā)出二次電子、背散射電...

在高溫環(huán)境下進(jìn)行X射線衍射(XRD)實驗通常需要特殊的設(shè)備和工作流程。以下是一個可能的高溫環(huán)境XRD工作流程：1.準(zhǔn)備樣品：選取要進(jìn)行XRD分析的高溫樣品，并將其準(zhǔn)備好。樣品可能是固體、液體或氣體，具體準(zhǔn)備方式根據(jù)樣品的性質(zhì)而定。2.裝載樣品：將準(zhǔn)備好的高溫樣品裝載到適用于高溫環(huán)境的XRD樣品臺上。確保樣品臺能夠在高溫條件下穩(wěn)定地支撐樣品，并確保樣品能夠受到均勻的加熱。3.設(shè)定X射線衍射儀器：根據(jù)樣品的性質(zhì)和所需的實驗參數(shù)，設(shè)定X射線衍射儀器的參數(shù)，包括X射線管電壓和電流、角...

原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對微弱力非常敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運動狀態(tài)發(fā)生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。原子力顯微鏡具有哪些優(yōu)勢特點？1.高分辨力能力遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過掃描電...